Цифровая микроскопия признана очень ценным методом эффективного и быстрого контроля качества. В дополнение к качеству HD, он предлагает большие преимущества, такие как простота проверки образцов, подробный и точный контроль и возможность анализа шероховатых поверхностей. Но как же выбрать микроскоп, адаптированный к вашей деятельности? Заказать цифровой микроскоп можно перейдя по ссылке.
1. Как правильно выбрать цифровой микроскоп?
В зависимости от отрасли, в которой вы работаете, требования могут различаться, поэтому не все микроскопы подходят для ваших нужд. Важнейшим критерием при выборе микроскопа является требуемое разрешение. В этой статье вы познакомитесь с 3 разными микроскопами Leica, предназначенными для самых разных целей и с переменным разрешением.
2. Какой цифровой микроскоп лучше всего подходит для производственных линий?
Что важнее всего для контроля качества на производственной линии, так это быстрый и точный контроль, возможность принятия быстрых решений и простое создание отчетов на основе надежных измерений.
Низкое-среднее разрешение
Производит HD-изображения в кратчайшие сроки
Очень интуитивно понятен, поэтому прост в использовании
Обеспечивает точный анализ с помощью измерения «точка-точка».
3. Какой цифровой микроскоп лучше всего подходит для детального анализа?
Что действительно важно для детального анализа, так это изображения с высоким разрешением, интуитивно понятный пользовательский интерфейс, а также точные и надежные результаты.
Среднее и высокое разрешение
Дает высокое разрешение во всем диапазоне увеличения
Производит и быстро вызывает воспроизводимые результаты — закодированные системные параметры
Легко использовать одной рукой
Создавайте отчеты одним щелчком мыши
4. Какой цифровой микроскоп лучше всего подходит для микро- и наномасштабного анализа?
Что наиболее важно для анализа микрометровых и наноразмерных образцов, так это четкое определение параметров поверхности, точные измерения шероховатости и высокое вертикальное разрешение 0,1 нм.
Система метрологии поверхности DCM8 — точный трехмерный анализ в микрометровом и нанометровом масштабе.
Высокое вертикальное разрешение 0,1 нм.
Характеристика поверхности в конфокальном режиме, боковое разрешение < 140 нм.
Шероховатость поверхности с режимами интерферометрии, вертикальное разрешение 0,1 нм
Выполняет точные 2D- и 3D-измерения на микро- и наноуровне.
Изображения с большой глубиной резкости с использованием изменения фокуса или Z-стекинга.
